產(chǎn)品詳情
VESTER擰緊塊AS10-U-5
光學材料特性測量的通用積分球設(shè)計標準
材料的光學性能通常根據(jù)其反射，透射和吸收來描述[1]。為了測量這些關(guān)鍵參數(shù)，材料要暴露在光輻射下，然后被樣品部分反射，透射或吸收。分光光度計是測量這些光學特性的最常見類型的設(shè)備。這些儀器包括用于樣品照明的光源，具有用于控制反射或透射輻射的測量幾何形狀的樣品架以及用于測量輻射的檢測器。如果光源提供樣品的寬帶照明，則通?；陉嚵械墓庾V儀將形成檢測器臺。備選地，可以用在感興趣的波長范圍內(nèi)掃描的單色輻射來照射樣品。
VESTER擰緊塊AS10-U-5
分光光度計的8 / d反射校準
| 商品名稱 | 商品類型 | 規(guī)格 | 品牌 | 產(chǎn)地 |
| 傳感器 | 類別3 | PMI10-10/P | VESTER | 德國 |
| 傳感器 | PSI-40-40/3-P | VESTER | 德國 | |
| 傳感器 | PS-20-30/R/S2 | VESTER | 德國 | |
| 傳感器 | PR-78/4P | VESTER | 德國 | |
| 擰緊塊 | AS10-U-5 | VESTER | 德國 | |
| 光柵 | PMI-20-30 / P | VESTER | 德國 | |
| 電纜 | AS10-U-4 | VESTER | 德國 |
積分球被用作許多市售分光光度計中的反射測量光學器件。8 / d測量幾何形狀是散射材料的常用選擇。在這里，樣品以8°入射角的光束照射，并測量了總的漫反射輻射。反射測量值表示表面返回的入射輻射的比例。因此，要測量反射率，分光光度計必須首先確定入射輻射的100％水平。提供8 / d反射測量幾何形狀的分光光度計需要漫反射校準標準。常見的校準標準是由壓制的硫酸鋇粉末或合成材料制成的。合成材料堅固得多，可以在污染的情況下通過重新加工反射面進行清潔。此外，這些基于PTFE的白色塑料可提供250 nm至2400 nm的寬光譜范圍。
高性能光源，用于類似Sun Spectrum AM1.5的材料測試或老化測試
材料不斷暴露在陽光下的大量能量下，特別是在高能藍色和紫外線下，這可能導致明顯的老化效果。為了測試這一點，除了高輻射功率（強度）之外，光譜分布（類似于太陽）和均勻的照明輸出（面積）也很重要。
對圖像傳感器，工業(yè)相機，高光譜成像傳感器和光電探測器等設(shè)備的測試和表征要求使用具有高度均勻光分布的光源。Gigahertz-Optik GmbH生產(chǎn)各種具有積分球和LED面板的均勻（均勻）光源，通過它們可以確定圖像傳感器和工業(yè)相機的均勻性和性能。此頁面上提供了一些應用示例。
