AG81110A 是一款 165 MHz 脈沖/碼型發(fā)生器。它的核心任務(wù)是生成具有極快上升/下降時間、精確電平控制和低抖動的方波和數(shù)字碼型，用于測試高速數(shù)字器件。

關(guān)鍵特性和功能
頻率與速率：

時鐘頻率 165 MHz。

數(shù)據(jù)速率 330 Mbps（因?yàn)榭梢栽跁r鐘的上升沿和下降沿都觸發(fā)）。

卓越的邊沿速度：

擁有極快的上升/下降時間，典型值 < 1 ns。這是它作為高性能脈沖發(fā)生器的關(guān)鍵指標(biāo)，使其能夠生成非常陡峭、清晰的數(shù)字脈沖。

精確的輸出電平：

提供兩個獨(dú)立的輸出通道（通道 A 和 B）。

每個通道的電平（高電平 Vh， 低電平 Vl）可以獨(dú)立設(shè)置，范圍通常在 -2V 到 +5V 之間，分辨率很高。

這對于匹配不同邏輯家族（如 TTL， LVDS， PECL， CMOS）的閾值電壓至關(guān)重要。

靈活的碼型生成：

內(nèi)置碼型發(fā)生器：可以生成偽隨機(jī)二進(jìn)制序列（PRBS）、全“0”、全“1”以及用戶自定義的碼型。

外部調(diào)制：支持從外部源輸入數(shù)據(jù)，并將其與內(nèi)部時鐘同步后輸出。

抖動注入與測量：

一些型號可能具備抖動注入功能，可以有意地在輸出信號中加入可控的抖動，用于測試系統(tǒng)對抖動的容忍度。

主要應(yīng)用領(lǐng)域
AG81110A 主要用于數(shù)字集成電路和系統(tǒng)的測試與驗(yàn)證：

高速數(shù)字設(shè)計：為 FPGA， ASIC， 高速串行鏈路提供高質(zhì)量的時鐘和參考信號。

存儲器測試：用于測試 DDR SDRAM 等存儲器的時序參數(shù)。

數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器測試：為高速 ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）和 DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器）提供極低抖動的采樣時鐘。時鐘的抖動直接影響到轉(zhuǎn)換器的信噪比（SNR）。

抖動和時序容限測試：通過注入抖動，測試接收機(jī)的性能極限。
總而言之，AG81110A 是一款專注于數(shù)字領(lǐng)域的“精加工”工具，它不追求生成復(fù)雜的模擬波形，而是致力于輸出最“完美”和“可控”的數(shù)字脈沖和時鐘信號，是高速數(shù)字電路調(diào)試和驗(yàn)證的利器。
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鄧    生：①③⑤~~~①零①⑤~~~②⑧①⑥（v同）。