產(chǎn)品詳情
熱循環(huán)測試
應(yīng)用于芯片、模塊、集成電路電子元器件等性能測試、失效分析、可靠性分析。
通過熱流罩將測試件與周邊環(huán)境隔離，循環(huán)噴射冷熱氣流，通過在非常短的時間里準確控制冷、熱空氣，為被測試品提供精確且快速的環(huán)境溫度。
工作原理：
試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗；
冷熱循環(huán)沖擊氣流測試機為確保閃存可在極端溫度環(huán)境(例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領(lǐng)域)可正常實現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀／寫操作功能，因此在出廠前需要進行溫度測試。
對比于傳統(tǒng)的溫箱,有以下幾個特征:
溫度范圍：-120℃~+300℃
升降溫速率非?？焖?，150℃~-55℃＜10秒
最大氣流量：30m3/h
實時監(jiān)控被測IC真實溫度，實現(xiàn)閉環(huán)反饋，實時調(diào)整氣體溫度;
升降溫時間可控，程序化操作、手動操作、遠程控制
測試條件：環(huán)境溫度20℃，30m3/h,5Bar，壓縮空氣或氮氣
應(yīng)用于芯片、模塊、集成電路電子元器件等性能測試、失效分析、可靠性分析。
通過熱流罩將測試件與周邊環(huán)境隔離，循環(huán)噴射冷熱氣流，通過在非常短的時間里準確控制冷、熱空氣，為被測試品提供精確且快速的環(huán)境溫度。
工作原理：
試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗；
冷熱循環(huán)沖擊氣流測試機為確保閃存可在極端溫度環(huán)境(例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領(lǐng)域)可正常實現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀／寫操作功能，因此在出廠前需要進行溫度測試。
對比于傳統(tǒng)的溫箱,有以下幾個特征:
溫度范圍：-120℃~+300℃
升降溫速率非?？焖?，150℃~-55℃＜10秒
最大氣流量：30m3/h
實時監(jiān)控被測IC真實溫度，實現(xiàn)閉環(huán)反饋，實時調(diào)整氣體溫度;
升降溫時間可控，程序化操作、手動操作、遠程控制
測試條件：環(huán)境溫度20℃，30m3/h,5Bar，壓縮空氣或氮氣
