產(chǎn)品詳情
特點(diǎn):
三維立體V-I-F曲線測(cè)試儀
變頻掃描V-I-F曲線測(cè)試儀
專業(yè)級(jí)V-I-F曲線測(cè)試儀
變頻掃描V-I-F曲線測(cè)試儀
專業(yè)級(jí)V-I-F曲線測(cè)試儀
靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試。
檢測(cè)電路板上受損器件。
可檢測(cè)出具有泄漏型故障的器件。
可檢測(cè)出不相同的器件。
將損壞風(fēng)險(xiǎn)降至*低。
具多通道測(cè)試（64通道）, 可減少測(cè)試時(shí)間。
檢測(cè)電路板上受損器件。
可檢測(cè)出具有泄漏型故障的器件。
可檢測(cè)出不相同的器件。
將損壞風(fēng)險(xiǎn)降至*低。
具多通道測(cè)試（64通道）, 可減少測(cè)試時(shí)間。
ABI-3400電路板故障檢測(cè)儀
可在靜態(tài)條件下分析器件及整板測(cè)試采用獨(dú)特的測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問(wèn)題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件- 增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 同時(shí), 減少測(cè)試時(shí)間!
何謂V/I曲線測(cè)試?
對(duì)于模擬及數(shù)字電路板, V/I曲線測(cè)試是成熟、可靠的解決方案。
透過(guò)一個(gè)限流電阻器, 施加AC電壓到一個(gè)測(cè)試點(diǎn)時(shí), 測(cè)量因此產(chǎn)生之電流, 并將結(jié)果繪制成一個(gè)電壓/電流圖形, 即顯示該測(cè)試點(diǎn)的特性曲線。
透過(guò)一個(gè)限流電阻器, 施加AC電壓到一個(gè)測(cè)試點(diǎn)時(shí), 測(cè)量因此產(chǎn)生之電流, 并將結(jié)果繪制成一個(gè)電壓/電流圖形, 即顯示該測(cè)試點(diǎn)的特性曲線。
分析V/I曲線,通常是與一參考點(diǎn)作比較,而檢測(cè)如下問(wèn)題:
漏電流器件。
內(nèi)部受損器件。
錯(cuò)誤數(shù)值的器件。
不一致的器件。
短路與開(kāi)路。
內(nèi)部受損器件。
錯(cuò)誤數(shù)值的器件。
不一致的器件。
短路與開(kāi)路。
變頻掃描方式---增加問(wèn)題查找范圍!
ABI-3400模塊, 通過(guò)改變V/I信號(hào)的AC電壓的頻率, 而增加問(wèn)題檢測(cè)范圍, 其產(chǎn)生的曲線, 繪制在一個(gè)3D窗口內(nèi), 能讓使用者觀察到整個(gè)頻率范圍上的V/I曲線變化, 進(jìn)而找到標(biāo)準(zhǔn)V/I分析方法看不見(jiàn)的問(wèn)題。
矩陣式掃描V/I----- 增加問(wèn)題查找范圍!
ABI-3400模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線, 而增加問(wèn)題檢測(cè)范圍。在這個(gè)模式時(shí), ABI-3400模塊是在參考所有其它有效管腳(不同于標(biāo)準(zhǔn)V/I測(cè)試中只有一個(gè)參考管腳)的情形下, 獲得一個(gè)器件或電路板每個(gè)管腳的V/I曲線。如此,便能產(chǎn)生豐富的數(shù)據(jù)組(一個(gè)20腳器件400條曲線), 足以檢測(cè)出*不易查找的故障。
靜態(tài)測(cè)試=安全測(cè)試!
被測(cè)電路板是在靜態(tài)測(cè)試下擷取曲線, 這降低了器件在測(cè)試當(dāng)中受損的機(jī)率, 容許半熟練的操作人員執(zhí)行初步測(cè)試。更重要的是,即使是完全”閑置”的電路板, 也能作測(cè)試診斷!
多通道=更快速的測(cè)試!
ABI-3400模塊配備64個(gè)測(cè)試信道(可擴(kuò)充), 可測(cè)試大規(guī)模器件、甚至整個(gè)電路板的曲線(例如, 透過(guò)一個(gè)轉(zhuǎn)接連接頭), 這可大幅減少測(cè)試所需時(shí)間，快速診斷各種電路板，而無(wú)須檢查每個(gè)管腳。
測(cè)試功能
ABI-3400模塊提供多種形式的V/I曲線測(cè)試及可設(shè)定的參數(shù), 可擴(kuò)大其應(yīng)用范圍及增加測(cè)試范圍, 包括:
變頻掃描進(jìn)行V/I曲線測(cè)試。
設(shè)定頻率進(jìn)行掃描的V/I曲線測(cè)試。
矩陣式掃描進(jìn)行V/I測(cè)試。
脈沖輸出進(jìn)行的動(dòng)態(tài)V/I測(cè)試。
變頻掃描進(jìn)行V/I曲線測(cè)試。
設(shè)定頻率進(jìn)行掃描的V/I曲線測(cè)試。
矩陣式掃描進(jìn)行V/I測(cè)試。
脈沖輸出進(jìn)行的動(dòng)態(tài)V/I測(cè)試。
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