產(chǎn)品詳情
ABI-8200包含2個(gè)重要測(cè)試模塊：ABI-6400+ABI-2400
模塊一：ABI-6400的技術(shù)參數(shù)
6400單獨(dú)成為測(cè)量設(shè)備的外形
離線測(cè)試盒
主要測(cè)試功能：
1)64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
2)64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件)
3)強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
4)閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
5)短路追蹤測(cè)試(低電阻測(cè)試)
6)實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
7)存儲(chǔ)器功能測(cè)試
8)數(shù)字時(shí)序編輯功能
9)未知器件型號(hào)查詢
10)程控電源供電,可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間
產(chǎn)品特征描述
1)中英文測(cè)試軟件，產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2)數(shù)字測(cè)試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
3)模擬測(cè)試通道64路，即64路V-I曲線測(cè)試(可擴(kuò)充到256通道). 1路v-i探棒測(cè)試
4)隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。
5)能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試；可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù)，可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)
6)配有離線測(cè)試盒，快速測(cè)試批量元器件。離線測(cè)試和在線測(cè)試功能完全一至。
7)IC型號(hào)識(shí)別：標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
8)讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試:可針對(duì)記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對(duì)比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線或離線測(cè)試.可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼
9)5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
10)數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
11)V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試
12)LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
測(cè)試準(zhǔn)確-源自先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)
1.同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試：功能測(cè)試，V-I曲線測(cè)試，曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，各個(gè)管腳電壓值測(cè)量,管腳連接狀態(tài)測(cè)量顯示,
2.圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成，方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù)
3.整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單，通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立板測(cè)試庫(kù)，快速批量檢測(cè)電路板的功能。
4.邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.
5.邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件。
6.短路電阻測(cè)量功能：三段低電阻測(cè)量范圍，可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小，并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點(diǎn)。
7.輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測(cè)試信息。
8.V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元件直接進(jìn)行測(cè)試，曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v；測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整, 可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào)，正負(fù)電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v *大限度地保證測(cè)試的安全性。其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種。
9.V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定，可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障。方便找出不穩(wěn)定器件.
10.系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充，直至256通道
英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)：
參數(shù)規(guī)格 |
|
測(cè)試通道數(shù): | 64通道 |
總線隔離信號(hào)信道數(shù): | 4通道 |
輸出驅(qū)動(dòng)電壓: | TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
輸出驅(qū)動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V |
| 一般 L-H 200mA @ 2V |
| Max.?400mA |
驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/μs |
電壓范圍: | +/-10V |
輸入阻抗: | 10k |
邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開(kāi)集極開(kāi)路 (內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài): | Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
過(guò)電壓保護(hù)范圍: | <0.5V, >5.5V |
*長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間: | 根據(jù)被測(cè)元器件而定 |
測(cè)試方式: | 在線及離線測(cè)試 (需外接離線測(cè)試盒) |
電源供給規(guī)格參數(shù) |
|
自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
過(guò)電壓保護(hù): | 7V |
過(guò)電流保護(hù): | 7A |
測(cè)試模式 |
|
單次(Single): | 單次測(cè)試 |
循環(huán)(Loop): | 反復(fù)測(cè)試, 或條件式循環(huán)測(cè)試(PASS或FAIL) |
自動(dòng)掃描測(cè)試: | 可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) |
|
*小調(diào)整解析: | 100mV |
低電平Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V |
三態(tài)Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
| CMOS 1.0V to 3.0V |
高電平High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V |
掃描低邏輯范圍Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V |
掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels: | TTL 1.2V |
| CMOS 2.5V |
掃描高邏輯范圍Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V |
