產(chǎn)品詳情
系統(tǒng)配有專用Premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測(cè)試項(xiàng)目可以同時(shí)操作使用,并按照需求制定測(cè)試工作流程,記錄下測(cè)試者每一步的測(cè)試數(shù)據(jù),形成寶貴的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序功能 (TestFlow) 可以將電路板的故障定位工作,轉(zhuǎn)換成一個(gè)循序漸進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)程序,并降低測(cè)量的不準(zhǔn)確性并且記錄所有的測(cè)量參數(shù). 技術(shù)工程人員可以自行編寫一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程序,或經(jīng)由TestFlow為特定的電路板設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)的量測(cè)步驟及記錄測(cè)量的結(jié)果. 工程人員也可以加入電路圖或?qū)嶋H的電路板圖片,甚至是加入一些指示來幫助檢測(cè)工作的進(jìn)行. 半熟練的工程人員只需要按步就班的依指示及圖示來操作設(shè)備,便可以完成所有的檢測(cè)工作.
產(chǎn)品綜述
數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊(ATM)
提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試(在線/離線測(cè)試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測(cè),并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測(cè)試功能.
該模塊是升級(jí)產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準(zhǔn)確.測(cè)試條件更豐富,仿真測(cè)試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測(cè)輸出的電平也可以自己定義.6500模塊可以更好的檢測(cè)測(cè)試庫(kù)以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測(cè)試更加方便快捷.
模擬集成電路測(cè)試功能模塊(AICT)
在模擬集成電路測(cè)試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測(cè)試.所有常見的模擬集成電路皆可以測(cè)試,系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測(cè)試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測(cè)試功能,電路板或集成電路可在無電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測(cè)試結(jié)果.2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測(cè)試庫(kù)。
數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(VPS)
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測(cè)試時(shí)所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時(shí)具有過電壓及過載保護(hù)功能.
Digital IC Test 數(shù)字集成電路測(cè)試功能
具64個(gè)量測(cè)通道 (64通道X1組模塊).八組輸出隔離信號(hào).可進(jìn)行集成電路的功能測(cè)試、電壓測(cè)量、接腳連接測(cè)試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測(cè).內(nèi)建邏輯時(shí)序信號(hào)測(cè)量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對(duì)功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對(duì)數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整,另外可自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對(duì)功能.
Analogue IC Test 模擬集成電路測(cè)試功能
具有24組測(cè)試通道及外加一組的分離集成電路測(cè)試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)可測(cè)量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對(duì)模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)、連接狀態(tài)測(cè)試及電壓測(cè)量.并具有自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀比對(duì)功能.
Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測(cè)試功能
具64量測(cè)通道(64通道X1個(gè)模塊).可調(diào)整測(cè)量信號(hào)電壓范圍.針對(duì)數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的測(cè)量結(jié)果.
Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測(cè)試功能
具有24量測(cè)通道及外加二組獨(dú)立測(cè)量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測(cè)量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號(hào)輸出.內(nèi)建測(cè)量線路補(bǔ)償功能.具有外接盒可供選配.
Matrix V-I 矩陣式V-I測(cè)試功能
具有24組矩陣式的測(cè)量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行測(cè)量波形的比對(duì)功能,并以條狀圖的方式來顯示各通道信號(hào)的差異百分比.
Graphical Test Generator 數(shù)字時(shí)序編輯功能
具有64個(gè)信號(hào)通道可供編輯數(shù)字時(shí)序信號(hào),每個(gè)通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號(hào)、并且儲(chǔ)存之后再進(jìn)行比對(duì).
Short Locator 短路電阻測(cè)量功能
具有三段低電阻測(cè)量范圍,可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.
Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達(dá)1A.
模塊介紹
ATM數(shù)字集成電路測(cè)試模塊
主要功能:
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件)
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
短路追蹤測(cè)試(低電阻測(cè)試)
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲(chǔ)器功能測(cè)試
數(shù)字時(shí)序編輯功能
未知器件型號(hào)查詢
程控電源供電
測(cè)試準(zhǔn)確-源自先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)
同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試:功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試,連接狀態(tài)測(cè)試,管腳電壓測(cè)試等.
圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成,方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒有的元件庫(kù).
整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單,通過圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測(cè)試庫(kù),快速批量檢測(cè)電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測(cè)量功能:三段低電阻測(cè)量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測(cè)試信息.
V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元器件直接進(jìn)行測(cè)試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),正負(fù)電壓可以不一致,例如:-2.5v~+10v *大限度地保證測(cè)試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種.
產(chǎn)品特征
中英文測(cè)試軟件,USB接口.
數(shù)字測(cè)試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
模擬測(cè)試通道64路(可擴(kuò)充到256通道).
1路v-i探棒測(cè)試隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào),6500可提供8路隔離信號(hào).
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;測(cè)試庫(kù)達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù),可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)配有離線測(cè)試盒,快速測(cè)試批量元器件.離線測(cè)試和在線測(cè)試功能完全一致.
IC型號(hào)識(shí)別:標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試.
讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過電壓及過電流各種類型電路板的測(cè)試。
數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
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數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格：
