產(chǎn)品詳情
Langer無源近場探頭組
品牌：Langer EMV-Technik
型號：RF1
無源RF1近場探頭組（30MHz-3GHz）
Sets
RF1 set, 近場探頭組（30MHz-3GHz）介紹：
Langer無源近場探頭組RF1包含4個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導線、元器件及其連接點測量，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒有安裝50Ω終端電阻。
Langer RF1近場探頭組配置:
1x RF-K 7-4, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
1x RF-U 2.5-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
1x RF-R 3-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
1x RF-E 10, 電場探頭（30MHz-3GHz）
1x SMB-BNC 1 m, SMB-BNC 測量電纜
1xCase 4(175 x 140x 35) mm
簡短的介紹
RF-K 7-4型近場探頭能夠測量反向進入探頭的環(huán)形磁場線。這類磁場線通常出現(xiàn)于導線、棒形結(jié)構、電纜接頭和扁平單元的邊緣等。該探頭的工作方式類似于電流耦合鉗。
RF-U 2.5-2型磁場探頭是一個近場探頭，用于檢測導線、元件引腳、SMD組件和集成電路引腳中的射頻電流。這個探頭頂端有一個約0.5mm寬的磁場敏感缺口，測試時將這個缺口放在被測對象上。
RF-R 3-2型近場探頭，分辨率高，用于直接檢測電子組裝件上的射頻磁場，例如引腳區(qū)域、集成電路外殼、導線、旁路電容器和電磁兼容性（EMC）元件等的磁場。
品牌：Langer EMV-Technik
型號：RF1
無源RF1近場探頭組（30MHz-3GHz）
Sets
RF1 set, 近場探頭組（30MHz-3GHz）介紹：
Langer無源近場探頭組RF1包含4個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導線、元器件及其連接點測量，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒有安裝50Ω終端電阻。
Langer RF1近場探頭組配置:
1x RF-K 7-4, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
1x RF-U 2.5-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
1x RF-R 3-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
1x RF-E 10, 電場探頭（30MHz-3GHz）
1x SMB-BNC 1 m, SMB-BNC 測量電纜
1xCase 4(175 x 140x 35) mm
簡短的介紹
RF-K 7-4型近場探頭能夠測量反向進入探頭的環(huán)形磁場線。這類磁場線通常出現(xiàn)于導線、棒形結(jié)構、電纜接頭和扁平單元的邊緣等。該探頭的工作方式類似于電流耦合鉗。
RF-U 2.5-2型磁場探頭是一個近場探頭，用于檢測導線、元件引腳、SMD組件和集成電路引腳中的射頻電流。這個探頭頂端有一個約0.5mm寬的磁場敏感缺口，測試時將這個缺口放在被測對象上。
RF-R 3-2型近場探頭，分辨率高，用于直接檢測電子組裝件上的射頻磁場，例如引腳區(qū)域、集成電路外殼、導線、旁路電容器和電磁兼容性（EMC）元件等的磁場。
RF-E 10型電場探頭的電極位于探頭下邊，約0.2mm寬，可以定位最小的電場源，例如0.1mm寬的導線，高引腳數(shù)集成電路的單個引腳。
