產(chǎn)品詳情
全天科技可編程交流電源采用當(dāng)前高端電源DSP+CPLD控制技術(shù)，強(qiáng)化內(nèi)部的數(shù)據(jù)與邏輯運(yùn)行能力，控制更快，產(chǎn)品運(yùn)行更穩(wěn)定?？焖僭O(shè)定與讀取各種波形，支持遠(yuǎn)程軟件升級(jí)更新，能夠生成各種波形用于分析，自帶的PLDTesting功能更是為測(cè)試提供了便利。PLDTesting包括ListMode/PulseMode/StepMode，可根據(jù)所需的測(cè)試條件來(lái)選擇對(duì)應(yīng)的測(cè)試模式。ListMode可編輯5個(gè)List文件，使用時(shí)可對(duì)List進(jìn)行命名，每個(gè)List中，能對(duì)輸出波形的起始電壓、結(jié)束電壓、角度、波形以及運(yùn)行模式等參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，可根據(jù)需求靈活設(shè)置參數(shù)，從而模擬各種干擾條件下電網(wǎng)/電源的輸出波形。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：卡套式管接頭由三部分組成：接頭體、卡套、螺母。當(dāng)卡套和螺母套在鋼管上插入接頭體后，旋緊螺母時(shí)，卡套前端外側(cè)與接頭體錐面貼合，內(nèi)刃均勻地咬入無(wú)縫鋼管，形成有效密封。其安裝簡(jiǎn)便，耐壓高，故而得到廣泛應(yīng)用。
卡套接頭具有連接牢靠、耐壓能力高、耐溫性、密封性和反復(fù)性好、安裝檢修方便、工作安全可靠等特點(diǎn)。
卡套接頭的工作原理是將鋼管插入卡套內(nèi)，利用卡套螺母鎖緊，抵觸卡套，切入管子而密封。它與鋼管連接時(shí)不需焊接，有利于防火、防爆和高空作業(yè)，并能消除焊接不慎帶來(lái)的弊端。因而它是煉油、化工、石油、天然氣、食品、制藥、儀器儀表等系統(tǒng)自控裝置管路中的一種較為先進(jìn)的連接件。適用于油、氣、水等介質(zhì)管路連接。
制造標(biāo)準(zhǔn)：GB3733.1～3765-83
公稱(chēng)壓力：25MPa--40MPa
適用溫度：≤450℃
適用介質(zhì)：油、水、氣等非腐蝕性或有腐蝕性介質(zhì)
制造材料：304 316 20#
配管：Φ4～Φ42的普通級(jí)精度無(wú)縫鋼管
錐管螺紋：ZG,G,NPT等
新聞:益陽(yáng)氣源接頭現(xiàn)貨供應(yīng)
PA310帶寬為300KHz，而另一臺(tái)設(shè)備的帶寬只有5KHz，LED驅(qū)動(dòng)模塊的工作原理為開(kāi)關(guān)輸出，因此必然會(huì)有高頻的信號(hào)引入，帶寬低的設(shè)備測(cè)試不到高頻信號(hào)，因此測(cè)試結(jié)果也就與帶寬高的設(shè)備相差甚遠(yuǎn)。為了驗(yàn)證測(cè)試結(jié)果確實(shí)是帶寬引起的，我們對(duì)PA310進(jìn)行了線路濾波器的設(shè)置，打開(kāi)了一個(gè)5.5KHz的線路濾波器，而后對(duì)比兩臺(tái)測(cè)試的功率因素，結(jié)果兩臺(tái)設(shè)備的功率因素確實(shí)一致，這也就證明了帶寬確實(shí)是影響測(cè)試結(jié)果的重要因素。
工作原理：
在卡套螺母擰緊一又四分之一轉(zhuǎn)的過(guò)程中，接頭內(nèi)部依次完成下面設(shè)計(jì)好的動(dòng)作。
1.通過(guò)螺紋機(jī)械式推進(jìn)，卡套螺母向前運(yùn)動(dòng)推動(dòng)后卡套向前，同時(shí)后卡套推動(dòng)前卡套向前運(yùn)動(dòng)。
2.接頭本體的向內(nèi)擠壓前卡套。
3.前卡套消除它的內(nèi)徑與管子外徑間的公差。
4.隨著后卡套的推進(jìn)，前卡套向前向內(nèi)動(dòng)作，后端抬起，與接頭本體斜面形成密封。
5.隨著管子更大的變形和本體斜面與前卡套接觸面的增大，更大的阻力迫使后卡套向內(nèi)動(dòng)作，從而在管子上形成第二道牢固的支撐。
6.在卡套螺母擰緊一又四分之一轉(zhuǎn)，它前進(jìn)了1/16inch(1.52mm)，接頭完成了密封，抱緊管子的作用。
新聞:益陽(yáng)氣源接頭現(xiàn)貨供應(yīng)
PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢(shì)誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長(zhǎng)期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開(kāi)路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實(shí)了無(wú)論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險(xiǎn)。
