產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品描述
設(shè)備主要利用渦電流測(cè)試原理,非接觸測(cè)試半導(dǎo)體材料,石墨烯,透明導(dǎo)電膜,碳納米管,金屬等材料的方阻(電阻率)。
可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)測(cè)試,亦可以實(shí)現(xiàn)面掃描的測(cè)試功能,可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測(cè)及質(zhì)量控制。
特點(diǎn)
本儀器為非接觸,非損傷測(cè)試,具有測(cè)試速度快,重復(fù)性佳,測(cè)試敏感性高,可以直接測(cè)試產(chǎn)品片。


