LED的長時間工作會光衰引起老化，尤其對大功率LED來說，光衰問題更加嚴重。在衡量LED的壽命時，僅僅以燈的損壞來作為 LED顯示屏壽命的終點是遠遠不夠的，應該以LED的光衰減百分比來規(guī)定LED的壽命，比如5%或10%，這樣更有意義。

　　光衰：在對感光鼓表面充電時，隨著電荷在感光鼓表面的積累，電位也不斷升高，最后達到 "飽和"電位，就是最高電位。表面電位會隨著時間的推移而下降，一般工作時的電位都低于這個電位，這個電位隨時間自然降低的過程，稱之為"暗衰"過程。感光鼓經掃描曝光時，暗區(qū)（指未受光照射部分的光導體表面）電位仍處在暗衰過程；亮區(qū)（指受光照射部分的光導體表面）光導層內載流子密度迅速增加，電導率急速上升，形成光導電壓，電荷迅速消失，光導體表面電位也迅速下降。稱之為"光衰"，最后趨緩。（全彩LED顯示屏）

　　光致衰退效應：也稱S-W效應。a-Si∶H薄膜經較長時間的強光照射或電流通過，在其內部將產生缺陷而使薄膜的使用性能下降，稱為Steabler-Wronski效應。對S-W效應的起因，至今仍有不少爭議，造成衰退的微觀機制也尚無定論，成為迄今國內外非晶硅材料研究的熱門課題?？偟目捶ㄕJ為，S-W效應起因于光照導致在帶隙中產生了新的懸掛鍵缺陷態(tài)（深能級），這種缺陷態(tài)會影響a-Si∶H薄膜材料的費米能級EF的位置，從而使電子的分布情況發(fā)生變化，進而一方面引起光學性能的變化，另一方面對電子的復合過程產生影響。這些缺陷態(tài)成為電子和空穴的額外復合中心，使得電子的俘獲截面增大、壽命下降。 （深圳LED顯示屏廠家）

　　在a-Si∶H薄膜材料中，能夠穩(wěn)定存在的是Si-H鍵和與晶體硅類似的Si-Si鍵，這些鍵的鍵能較大，不容易被打斷。由于a-Si∶H材料結構上的無序，使得一些Si-Si鍵的鍵長和鍵角發(fā)生變化而使Si-Si鍵處于應變狀態(tài)。高應變Si-Si鍵的化學勢與H相當，可以被外界能量打斷，形成Si-H鍵或重新組成更強的Si-Si鍵。如果斷裂的應變Si-Si鍵沒有重構，則a-Si∶H薄膜的懸掛鍵密度增加。為了更好地理解S-W效應產生的機理并控制a-Si∶H薄膜中的懸掛鍵，以期尋找穩(wěn)定化處理方法和工藝，20多年來，國內外科學工作者進行了不懈的努力，提出了大量的物理模型，主要有弱鍵斷裂（SJT）模型、“H玻璃”模型、H碰撞模型、Si-H-Si橋鍵形成模型、“defect pool”模型等，但至今仍沒有形成統一的觀點。