產(chǎn)品詳情
定量分析，能譜成分定量分析的依據(jù)是某種元素的特征X射線峰的高度（強(qiáng)度）與該元素在樣品 中的濃度成比例。在實(shí)際的測(cè)量計(jì)算中，還要考慮其他因素對(duì)X射線強(qiáng)度的影響，對(duì)測(cè)試 潔果進(jìn)行必要的校正，即原子序數(shù)校正（Z校正）、吸收校正和熒光校正，通常稱為ZAF校正。
1.原子序數(shù)校正當(dāng)能量為&的人射電子進(jìn)人樣品以后，由于受到各種彈性或非彈性 玫射而在運(yùn)動(dòng)軌跡變化的同時(shí)，能量逐漸下降。這就是樣品物質(zhì)對(duì)人射電子的阻止作用，樣 活化學(xué)成分（即原子序數(shù)）不同，將通過它們對(duì)人射電子的阻止作用不同，使激發(fā)產(chǎn)生的線強(qiáng)度發(fā)生變化。當(dāng)人射電子受樣品內(nèi)原子的背反射而重新離開樣品時(shí)，將帶走一部分原 挎可以激發(fā)X射線信號(hào)的人射能量，使X射線強(qiáng)度受到損失。由于阻止作用和背反射效應(yīng)品物質(zhì)的吸收，其吸收程度除與樣品中化學(xué)成分有關(guān)外，還與激發(fā)位置至表面的距離等因言 有關(guān)。由于吸收效應(yīng)的存在，使實(shí)際發(fā)射的X射線強(qiáng)度降低。吸收校正是電子探針定量:夕 析中最重要的一項(xiàng)校正因數(shù)。
2.熒光校正在受到人射電子束轟擊的樣品內(nèi)，人射電子可以直接激發(fā)元素的特 射線（稱為初級(jí)X射線），而試樣中其他元素的特征X射線和連續(xù)譜中波長較短的X射線七 會(huì)激發(fā)元素的特征X射線。這種由其他X射線間接地激發(fā)產(chǎn)生的元素的特征譜線稱為二射線或熒光X射線。熒光激光效應(yīng)導(dǎo)致測(cè)得的特征譜線強(qiáng)度提高，從而在定量分析中男進(jìn)行熒光校正。電子探針定量分析工作的計(jì)算十分復(fù)雜，特別是當(dāng)樣品內(nèi)含有多種不同元素時(shí)，計(jì)算作量絕非人工手算所能完成的。一般采用計(jì)算機(jī)進(jìn)行計(jì)算和數(shù)據(jù)處理，常用的定量計(jì)算方 有標(biāo)樣法和無標(biāo)樣法。用計(jì)算機(jī)進(jìn)行定量分析速度很快，定量分析的相對(duì)精度可達(dá),但對(duì)濃度低于10%、原子序數(shù)小于10的元素，以及以熒光校正和較大的吸收校正戈 主時(shí)，誤差較大。
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