美國(guó)安維譜（MVP）公司正式宣布已把3D測(cè)試這一技術(shù)成功導(dǎo)入自動(dòng)檢測(cè)儀系列設(shè)備中。
MVP 將最新的高速,高精度攝像機(jī)與自動(dòng)檢測(cè)儀1820系列現(xiàn)有的設(shè)計(jì)相結(jié)合開發(fā)出新的3D檢測(cè)功能。使用MVP的專利技術(shù),像0201或Micro-BGA一樣小的組件都可以利用這一3D技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。Ultra II 和Supra可以提供這一選項(xiàng)以此呈現(xiàn)出2D/3D最為卓越的性能。
MVP執(zhí)行總裁George Ayoub博士談道：“我們的3D檢測(cè)功能具有極強(qiáng)的靈活性,現(xiàn)在客戶具有雙重選擇,可100%運(yùn)用3D技術(shù)來進(jìn)行檢測(cè),也可運(yùn)用多路徑2D和3D組合技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。MVP的多路徑技術(shù)能夠做到運(yùn)用不同傳感器和（或）不同照明把同一程序的檢測(cè)路徑分開。這一技術(shù)還可以使檢測(cè)程序在路徑控制的情況下進(jìn)行取樣。
Ayoub 博士表示：“將3D檢測(cè)技術(shù)導(dǎo)入到AOI系統(tǒng)中可以有效擴(kuò)大缺陷覆蓋面,比2D檢測(cè)系統(tǒng)更為行之有效�！比缃�,3D技術(shù)的高速,靈活,以及擴(kuò)大的缺陷覆蓋面可在同一平臺(tái)上使用。 www.machinevisionproducts.com +86-21-64480601 |
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