GE IC200CBL555 開關(guān)

GE IC200CBL555 開關(guān)

當(dāng)然，數(shù)據(jù)安全也是智能工廠的必備要素。兆易創(chuàng)新GD32H7系列提供了多種安全加密功能，包括DES、三重DES、AES算法及哈希算法，集成RTDEC模塊，可進(jìn)一步保護(hù)連接到AXI或AHB總線的外部存儲器的數(shù)據(jù)安全，防止在工廠和現(xiàn)場的通信過程中受到的威脅，確保物聯(lián)網(wǎng)硬件數(shù)據(jù)安全。

存儲與控制并駕齊驅(qū)，兆易創(chuàng)新拓寬綠色能源應(yīng)用布局

GE IC200CBL555 開關(guān)

1.離線檢測 
  測出IC芯片各引腳對地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片 
進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn). 
2.在線檢測 
  1)直流電阻的檢測法 
    同離線檢測.但要注意: 
    (a)要斷開待測電路板上的電源; 
    (b)萬能表內(nèi)部電壓不得大于6V; 
    (c)測量時,要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等. 
  2)直流工作電壓的測量法 
    測得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意： 
    (a)萬能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為; 
    (b)各電位器旋到中間位置; 
    (c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上, 
       并應(yīng)長出筆尖約5mm; 
    (d)當(dāng)測量值與正常值不相符時,應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對IC芯片正 
       常值有無影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析; 
    (e)IC芯片引腳電壓會受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路, 
       開路或變質(zhì)等; 
    (f)IC芯片部分引腳異常時,則從偏離大的入手.先查外圍元器件, 
       若無故障,則IC芯片損壞; 
    (g)對工作時有動態(tài)信號的電路板,有無信號IC芯片引腳電壓是不 
       同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞; 
    (h)對多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時IC腳的電壓是不同 
       的. 
  3)交流工作電壓測試法 
    用帶有dB檔的萬能表,對IC進(jìn)行交流電壓近似值的測量.若沒有dB 
    檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用 
    于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號將受固有頻率,波形不 
    同而不同.所以所測數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考. 
  4)總電流測量法 
    通過測IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直 
    流耦合,IC損壞時(如PN結(jié)擊穿或開路)會引起后級飽和與截止,使 
    總電流發(fā)生變化.所以測總電流可判斷IC的好壞.在線測得回路電 
    阻上的電壓,即可算出電流值來. 
以上檢測方法,各有利弊.在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來運(yùn)用.運(yùn)用好了 
就能維修好各種電路板。