產(chǎn)品詳情
羅克韋爾 1771-ID01 端子
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者，均知道有這么一句行話。“在線測(cè)試時(shí)不通過(guò)的芯片不一定是損壞的；測(cè)試通過(guò)的芯片一定是沒(méi)有損壞的。”它的解釋為，如器件受在線影響或抗干擾時(shí)，結(jié)果可能不通過(guò)，對(duì)此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，均會(huì)得出“不通過(guò)”呢？回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過(guò)，明明芯片已損壞了（確切地說(shuō)換上這個(gè)芯片板子就不工作了），但測(cè)試結(jié)果是通過(guò)的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理（后驅(qū)動(dòng)技術(shù)）所致。故此我們不能過(guò)分依賴在線測(cè)試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
維修技巧之二
羅克韋爾 1771-ID01 端子
| 1769-L32C | 1771-IBD |
| 1769-L32E | 1771-IBN |
| 1769-L33ER | 1771-IC |
| 1769-L33ERM | 1771-ID |
| 1769-L35CR | 1771-ID01 |
| 1769-L35E | 1771-ID16 |
羅克韋爾 1771-ID01 端子
| IC695CPE330 | IC697ACC624 |
| IC695ACC402 | IC697ACC644 |
| IC695ACC652 | IC697ACC700 |
| IC695GCG001 | IC697ACC701 |
| IC695RMX228 | IC697ACC702 |
| IC695CEP001 | IC697ACC715 |
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這些由硬件整合趨勢(shì)推動(dòng)的應(yīng)用領(lǐng)域需要在功能安全的多核嵌入式系統(tǒng)上運(yùn)行混合類關(guān)鍵應(yīng)用，從而并行管理重要和非重要安全任務(wù)。嵌入式x86多核平臺(tái)為這類應(yīng)用提供了可靠的基礎(chǔ)，因此康佳特現(xiàn)在使其平臺(tái)能符合FuSa標(biāo)準(zhǔn)(包括IEC 61508和ISO 13849)的認(rèn)證。
