EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在測試中不會(huì)損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著時(shí)間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 盡可能給以備份.

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為此，人們開始探索現(xiàn)場搪瓷設(shè)備修補(bǔ)的方法。研究開發(fā)修補(bǔ)材料來滿足修補(bǔ)的需要。國外產(chǎn)品有索泰，福世藍(lán)，貝爾佐納等，國內(nèi)產(chǎn)品有德邦，天山，犟力，ZH等，但這些修補(bǔ)劑的局限性很大，耐腐蝕性差，不能搪瓷設(shè)備冷熱劇變下的效果，使用壽命短。工程師經(jīng)過十幾年的研究和實(shí)踐，研究出里mty系列新材料修補(bǔ)劑和修補(bǔ)新工藝。在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)濟(jì)可靠地修補(bǔ)搪玻璃設(shè)備，成功地解決了搪瓷設(shè)備現(xiàn)場的難題。修補(bǔ)劑的創(chuàng)新為修補(bǔ)劑不可比擬的。
EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時(shí),還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過 多次試驗(yàn),可能大的原因是:工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 所致.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.
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另外，某些性能的變化并不能直接用肉眼觀察到，而只有對材料進(jìn)行相關(guān)的測試才能發(fā)現(xiàn)，如機(jī)械性能和介電強(qiáng)度的改變。在選擇干燥過程時(shí)，材料的干燥性能具有至關(guān)重要的意義。物料可以分成吸濕性和非吸濕性兩種。吸濕性物料能夠從周圍環(huán)境吸收水分，非吸濕性材料不能從環(huán)境中吸收水分。對于非吸濕性物料，任何環(huán)境中存在的水分都保留在表面，成為表面水分而易于被。不過由非吸濕性物料制成的膠粒也可能因?yàn)樘砑觿┗蛱盍系淖饔枚兊镁哂形鼭裥浴?br /> 電磁兼容性是指電子設(shè)備在各種電磁環(huán)境中仍能夠協(xié)調(diào)、有效地進(jìn)行工作的能力。目的是使電子設(shè)備既能各種外來的干擾，使電子設(shè)備在特定的電磁環(huán)境中能夠正常工作，同時(shí)又能減少電子設(shè)備本身對其它電子設(shè)備的電磁干擾。選擇的導(dǎo)線寬度由于瞬變電流在PCB電路板印制線條上所產(chǎn)生的沖擊干擾主要是由印制導(dǎo)線的電感成分造成的，因此應(yīng)盡量減小印制導(dǎo)線的電感量。
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采用正確的布線策略采用平等走線可以減少導(dǎo)線電感，但導(dǎo)線之間的互感和分布電容增加，如果布局允許，采用井字形網(wǎng)狀布線結(jié)構(gòu)，具體做法是印制板的一面橫向布線，另一面縱向布線，然后在交叉孔處用金屬化孔相連。為了PCB電路板導(dǎo)線之間的串?dāng)_，在設(shè)計(jì)布線時(shí)應(yīng)盡量避免長距離的平等走線，盡可能拉開線與線之間的距離，信號線與地線及電源線盡可能不交叉。在一些對干擾十分的信號線之間設(shè)置一根接地的印制線，可以有效地串?dāng)_。
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啟閉力和啟閉力矩啟閉力和啟閉力矩是指閥門開啟或關(guān)閉所必須施加的作用力或力矩。關(guān)閉閥門時(shí)，需要使啟閉件與發(fā)座兩密封面間形成一定的密封比壓，同時(shí)還要克服閥桿與填料之間、閥桿與螺母的螺紋之間、閥桿端部支承處及其他磨擦部位的摩擦力，因而必須施加一定的關(guān)閉力和關(guān)閉力矩，閥門在啟閉過程中，所需要的啟閉力和啟閉力矩是變化的，其大值是在關(guān)閉的終瞬時(shí)或開啟的初瞬時(shí)。設(shè)計(jì)和制造閥門時(shí)應(yīng)力求降低其關(guān)閉力和關(guān)閉力矩。