產(chǎn)品詳情
高加速測(cè)試
高加速測(cè)試是一種對(duì)電子和機(jī)械裝配件利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示設(shè)計(jì)缺陷和不足的過(guò)程。HALT的目的是在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
適用領(lǐng)域:1、計(jì)算機(jī)類:電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等;
2、電子通信類:手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等;
3、電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備;
4、其他:包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等;
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
高溫測(cè)試:GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2
低溫測(cè)試:GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59
快速溫變測(cè)試:GB/T 2423.22 IEC60068-2-14
冷熱沖擊測(cè)試:GB/T 2423.22 IEC60068-2-14 EIA-364-32
恒溫恒濕測(cè)試:GB/T 2423.3 IEC 60068-2-78 MIL-STD-202
溫度變化測(cè)試:GB/T 2423.22 IEC60068-2-14
交變濕熱:GB/T 2423.4 IEC 60068-2-30
溫濕度組合循環(huán)測(cè)試:GB/T 2423.34 IEC60068-2-38 MIL-STD-202
TB/T 2054-2017機(jī)車淋雨試驗(yàn)方法


