產品詳情
系統(tǒng)介紹
XTOM工業(yè)級高精度三維掃描儀基于雙目立體視覺原理，采用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術，單幅測量幅面大?。◤?/span>30毫米到1米）、測量精度、測量速度等性能都達到國際最先進水平，與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。
應用方向
行業(yè)
航天軍工、汽車模具、重型機械、材料測試、土木工程、文化創(chuàng)意等
逆向設計
快速獲取物體表面三維數(shù)據，建立物體精確三維模型，優(yōu)化產品設計/還原產品設計圖
產品檢測
檢測范圍包括：產品點、線、面之間角度、距離、對稱度及位置度等關系；對比標準件或設計圖分析產品尺寸、角度及位置偏差等；對比產品使用前后數(shù)據分析產品使用損耗，分析產品性能及壽命等。可檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等。
其它應用
文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、醫(yī)學整容修復等。
測量精度：0.01mm~0.05mm
單次掃描時間：2~3s
