知識(shí)點(diǎn)4——固體電介質(zhì)的擊穿形式
| 擊穿形式 | 擊穿過(guò)程 | 擊穿強(qiáng)度 | 擊穿前溫度 | 擊穿過(guò)程快慢 |
| 電擊穿 | 碰撞游離導(dǎo)致 | 很高 | 不高 | 極快 |
| 熱擊穿 | 溫度很高造成熱破壞 | 不高 | 高 | 慢 |
| 電化學(xué)擊穿 | 電介質(zhì)劣化導(dǎo)致 | 低 | 不高（電擊穿） | 緩慢 |
| 高（熱擊穿） |
知識(shí)點(diǎn)5——絕緣的缺陷的分類
一類是局部性或集中性的缺陷，例如懸式絕緣子的瓷質(zhì)開(kāi)裂;發(fā)電機(jī)絕緣局部磨損、擠壓破裂;電纜由于局部有氣隙在工作電壓作用下發(fā)生局部放電逐步損壞絕緣，以及其他的機(jī)械損傷、受潮等。
一類是整體性或分布性的缺陷，它是指由于受潮、過(guò)熱及長(zhǎng)期運(yùn)行過(guò)程中所引起的整體絕緣老化、變質(zhì)、受潮、絕緣性能下降。
知識(shí)點(diǎn)6——直流耐壓實(shí)驗(yàn)與交流耐壓實(shí)驗(yàn)的比較
直流耐壓試驗(yàn)：能有效地發(fā)現(xiàn)絕緣受潮，臟污等整體缺陷，并能通過(guò)電流與泄漏電流的關(guān)系曲線發(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷。由于直流電壓下按絕緣電阻分壓，所以，能比交流更有效地發(fā)現(xiàn)端部絕緣缺陷。同時(shí)，因直流電壓下絕緣基本上不產(chǎn)生介質(zhì)損失，因此，直流耐壓對(duì)絕緣的破壞性小。另外，由于直流耐壓只需供給很小的泄漏電流，因而所需試驗(yàn)設(shè)備容量小，攜帶方便。
交流耐壓試驗(yàn)：在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進(jìn)行,從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā),可以有效地發(fā)現(xiàn)局部游離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)。由于在交變電壓下主要按電容分壓，故能夠有效地暴露設(shè)備絕緣缺陷。但是，交流耐壓對(duì)絕緣的破壞性比直流大，而且由于試驗(yàn)電流為電容電流，所以需要大容量的試驗(yàn)設(shè)備。
綜上所述，直流耐壓試驗(yàn)和工頻交流耐壓試驗(yàn)都能有效地發(fā)現(xiàn)絕緣缺陷，但各有特點(diǎn)，因此兩種方法不能相互代替，必要時(shí)，應(yīng)同時(shí)進(jìn)行，相互補(bǔ)充。
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