產(chǎn)品詳情
1、塊體用FIB制樣，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；無揮發(fā)性，固體、塊體長寬小于20mm，高度小于4mm。納米顆?；蛘呒{米片建議用微柵或者超薄碳膜制樣；
2、樣品要求導電性良好，如果導電性比較差的話需要進行噴金或噴碳處理。
3、透射樣品制備只保證切出的樣品厚度可以拍透射。
4. 含磁性元素的樣品必須提供粉末用于驗證磁性。
1. fib切的透射薄片有孔或者部分脫落有影響嗎？
切樣的目的就是為了減薄樣品，一些材質(zhì)減薄后就會出現(xiàn)部分脫落，穿孔的現(xiàn)象，屬于正常現(xiàn)象，有薄區(qū)，不影響透射拍攝即可，比如離子減薄制樣就是要在材料上穿一個孔。
2.價格?
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TEM制樣 |
3400/樣 |
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SEM剖面分析 |
1000/h |
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三維原子探針制樣 |
APT樣品臺4500,3500/針尖 |
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三維重構 |
報價 |
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微納加工 |
報價 |
3.三維原子探針數(shù)據(jù)中的pole是怎么出現(xiàn)的，基于什么原理？
原子蒸發(fā)過程中低指數(shù)面脫落，由于是多個原子一起飛出，導致探測器無法識別，產(chǎn)生類似極圖的分布。同時部分元素蒸發(fā)過程中在pole可能發(fā)生偏聚，所以某些元素的pole會很明顯。
4.如何在三維原子探針采集數(shù)據(jù)過程中得到pole？
可以通過調(diào)整角度或位置獲得想要的取向的pole。但不是所有材料都能有明顯的pole。另外，pole的清晰程度跟設備的型號也有關系。
