產(chǎn)品詳情
分析原理：球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學(xué)透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統(tǒng)都無法做到完美。光學(xué)透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法會聚到一個焦點的缺點，可對于電磁透鏡，我們沒有凹透鏡，球差便成了影響TEM分辨率最主要也最難解決的問題。用球差校正裝置扮演凹透鏡修正球差的透射電鏡即為球差透射電鏡，消除了一些透射系統(tǒng)中存在的球面像差，將透射電鏡的分辨率提高到了亞埃極（0.06nm）。
可做項目：TEM，STEM，EDS，Mapping，SAED，EELS。
制樣用微柵或者超薄碳膜；所有的樣品拍攝之前需要用高分辨TEM預(yù)觀察，確保樣品制備成功；含磁性元素樣品，必須提供粉末或者原樣用于驗證磁性；
1、塊體用fib制樣，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；
2、納米顆粒或者納米片建議用微柵或者超薄碳膜制樣；
1. 樣品為什么會積碳，積碳有什么影響？
答：樣品中有機物的影響，制備過程含有機物，或者樣品吸附空氣中污染物；積碳會影響STEM模式的拍攝效果，讓視野模糊不清。
2. 有什么方法可以改善積碳帶來的影響？是否一定有用？
答：等離子清洗制好樣的載網(wǎng)，但有洗壞樣品的風(fēng)險，可以會導(dǎo)致負載顆粒脫落等風(fēng)險；電子束輻照樣品一段時間，理論上會有改善，但是實際不一定會有明顯效果。
